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任何產(chǎn)品在運(yùn)輸、使用、保存、中會(huì)產(chǎn)生碰撞、振動(dòng),使產(chǎn)品在某一段時(shí)間產(chǎn)生不良，嚴(yán)重影響產(chǎn)品的使用和不必要的經(jīng)濟(jì)損失，為了避免這事態(tài)的發(fā)生我們就要提早知道產(chǎn)品或產(chǎn)品中的部件的耐振壽命。對(duì)電子產(chǎn)品振動(dòng)測(cè)試是在對(duì)其產(chǎn)品進(jìn)行一連串可控制的振動(dòng)模擬，測(cè)試產(chǎn)品在壽命周期中，因振動(dòng)力所產(chǎn)生的破壞或是能否承受運(yùn)輸過程中環(huán)境因素的考驗(yàn)，從而可以根據(jù)測(cè)試結(jié)果對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行改良。

下面武漢安德信盤點(diǎn)電子產(chǎn)品在運(yùn)輸過程中可能會(huì)出現(xiàn)的問題隱患：
1、結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度；
2、結(jié)合物的松脫；
3、保護(hù)材料的磨損；
4、零組件的破損；
5、電子組件之接觸不良；
6、電路短路及斷續(xù)不穩(wěn)；
7、各件之標(biāo)準(zhǔn)值偏移；
8、提早將不良件篩檢出。
 
在以上電子產(chǎn)品運(yùn)輸中可能會(huì)受到振動(dòng)影響就是電子產(chǎn)品為什么要做耐振測(cè)試的原因了，同時(shí)振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)儀器制造商需依據(jù)零件、結(jié)構(gòu)、包裝與運(yùn)送過程間之共振關(guān)系，改良其共振因素而去設(shè)計(jì)包裝。而振動(dòng)測(cè)試的程序，須評(píng)估訂定試驗(yàn)規(guī)格，夾具設(shè)計(jì)之真實(shí)性，測(cè)試過程中之功能檢查及zui后試件之評(píng)估、檢討和建議。現(xiàn)今世界經(jīng)濟(jì)潮流，已從過去地域性的經(jīng)濟(jì)模式而走向性的經(jīng)濟(jì)貿(mào)易。無論是地域性市場(chǎng)或進(jìn)軍市場(chǎng)，高質(zhì)量的產(chǎn)品當(dāng)然是不容諱言的。而耐振測(cè)試更能助您產(chǎn)品躍入高質(zhì)量行列中不可缺乏的利器。